M. Gros-Jean

2005
2	EE	E. Deloffre, L. Montès, G. Ghibaudo, S. Bruyère, S. Blonkowski, S. Bécu, M. Gros-Jean, S. Crémer: Electrical properties in low temperature range (5K-300K) of Tantalum Oxide dielectric MIM capacitors. Microelectronics Reliability 45(5-6): 925-928 (2005)
2001
1	EE	G. Borsoni, N. Béchu, M. Gros-Jean, M. L. Korwin-Pawlowski, R. Laffitte, V. Le Roux, L. Vallier, N. Rochat, C. Wyon: Ultra-thin oxides on silicon fabricated using ultra-slow multicharged ion beams. Microelectronics Reliability 41(7): 1063-1066 (2001)

Coauthor Index

1	N. Béchu	[1]
2	S. Bécu	[2]
3	S. Blonkowski	[2]
4	G. Borsoni	[1]
5	S. Bruyère	[2]
6	S. Crémer	[2]
7	E. Deloffre	[2]
8	G. Ghibaudo	[2]
9	M. L. Korwin-Pawlowski	[1]
10	R. Laffitte	[1]
11	L. Montès	[2]
12	N. Rochat	[1]
13	V. Le Roux	[1]
14	L. Vallier	[1]
15	C. Wyon	[1]

Colors in the list of coauthors