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| 2005 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | E. Deloffre, L. Montès, G. Ghibaudo, S. Bruyère, S. Blonkowski, S. Bécu, M. Gros-Jean, S. Crémer: Electrical properties in low temperature range (5K-300K) of Tantalum Oxide dielectric MIM capacitors. Microelectronics Reliability 45(5-6): 925-928 (2005) |
| 1 | S. Bécu | [1] |
| 2 | S. Blonkowski | [1] |
| 3 | S. Bruyère | [1] |
| 4 | S. Crémer | [1] |
| 5 | E. Deloffre | [1] |
| 6 | G. Ghibaudo | [1] |
| 7 | M. Gros-Jean | [1] |