J. Schulze

2005
3	EE	V. Capodieci, F. Wiest, T. Sulima, J. Schulze, I. Eisele: Examination and evaluation of La2O3 as gate dielectric for sub-100nm CMOS and DRAM technology. Microelectronics Reliability 45(5-6): 937-940 (2005)
1994
2		U. Rothe, G. Müller, Hildebrand Kunath, J. Schulze: Regionale klinisch-epidemiologisches Diabetes-Register als Instrument für Qualitätsmanagement. GMDS 1994: 271-275
1984
1		W. Johannsen, J. Schulze, Bernd E. Wolfinger: Modellierung und Simulation eines Gateway-Rechners. Simulationstechnik 1984: 84-90

Coauthor Index

1	V. Capodieci	[3]
2	I. Eisele	[3]
3	W. Johannsen	[1]
4	Hildebrand Kunath	[2]
5	G. Müller	[2]
6	U. Rothe	[2]
7	T. Sulima	[3]
8	F. Wiest	[3]
9	Bernd E. Wolfinger	[1]

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