| |
| 2005 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | S. Mellé, D. De Conto, L. Mazenq, D. Dubuc, B. Poussard, C. Bordas, K. Grenier, L. Bary, O. Vendier, J. L. Muraro: Failure predictive model of capacitive RF-MEMS. Microelectronics Reliability 45(9-11): 1770-1775 (2005) |
| 1 | L. Bary | [1] |
| 2 | D. De Conto | [1] |
| 3 | D. Dubuc | [1] |
| 4 | K. Grenier | [1] |
| 5 | L. Mazenq | [1] |
| 6 | S. Mellé | [1] |
| 7 | J. L. Muraro | [1] |
| 8 | B. Poussard | [1] |
| 9 | O. Vendier | [1] |