S. J. C. H. Theeuwen

2006
2	EE	P. J. van der Wel, S. J. C. H. Theeuwen, J. A. Bielen, Y. Li, R. A. van den Heuvel, J. G. Gommans, F. van Rijs, P. Bron, H. J. F. Peuscher: Wear out failure mechanisms in aluminium and gold based LDMOS RF power applications. Microelectronics Reliability 46(8): 1279-1284 (2006)
2005
1	EE	N. Nenadovic, V. Cuoco, S. J. C. H. Theeuwen, L. K. Nanver, H. Schellevis, G. Spierings, H. F. F. Jos, J. W. Slotboom: Electrothermal characterization of silicon-on-glass VDMOSFETs. Microelectronics Reliability 45(3-4): 541-550 (2005)

Coauthor Index

1	J. A. Bielen	[2]
2	P. Bron	[2]
3	V. Cuoco	[1]
4	J. G. Gommans	[2]
5	R. A. van den Heuvel	[2]
6	H. F. F. Jos	[1]
7	Y. Li	[2]
8	L. K. Nanver	[1]
9	N. Nenadovic	[1]
10	H. J. F. Peuscher	[2]
11	F. van Rijs	[2]
12	H. Schellevis	[1]
13	J. W. Slotboom	[1]
14	G. Spierings	[1]
15	P. J. van der Wel	[2]

Colors in the list of coauthors