F. van Rijs

2006
1	EE	P. J. van der Wel, S. J. C. H. Theeuwen, J. A. Bielen, Y. Li, R. A. van den Heuvel, J. G. Gommans, F. van Rijs, P. Bron, H. J. F. Peuscher: Wear out failure mechanisms in aluminium and gold based LDMOS RF power applications. Microelectronics Reliability 46(8): 1279-1284 (2006)

Coauthor Index

1	J. A. Bielen	[1]
2	P. Bron	[1]
3	J. G. Gommans	[1]
4	R. A. van den Heuvel	[1]
5	Y. Li	[1]
6	H. J. F. Peuscher	[1]
7	S. J. C. H. Theeuwen	[1]
8	P. J. van der Wel	[1]