| |
| 2005 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | N. Nenadovic, V. Cuoco, S. J. C. H. Theeuwen, L. K. Nanver, H. Schellevis, G. Spierings, H. F. F. Jos, J. W. Slotboom: Electrothermal characterization of silicon-on-glass VDMOSFETs. Microelectronics Reliability 45(3-4): 541-550 (2005) |
| 1 | H. F. F. Jos | [1] |
| 2 | L. K. Nanver | [1] |
| 3 | N. Nenadovic | [1] |
| 4 | H. Schellevis | [1] |
| 5 | J. W. Slotboom | [1] |
| 6 | G. Spierings | [1] |
| 7 | S. J. C. H. Theeuwen | [1] |