![]() | ![]() |
2005 | ||
---|---|---|
1 | EE | G. Ghidini, C. Capolupo, G. Giusto, A. Sebastiani, B. Stragliati, M. Vitali: Tunnel oxide degradation under pulsed stress. Microelectronics Reliability 45(9-11): 1337-1342 (2005) |
1 | C. Capolupo | [1] |
2 | G. Ghidini | [1] |
3 | G. Giusto | [1] |
4 | B. Stragliati | [1] |
5 | M. Vitali | [1] |