| |
| 2005 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | G. Ghidini, C. Capolupo, G. Giusto, A. Sebastiani, B. Stragliati, M. Vitali: Tunnel oxide degradation under pulsed stress. Microelectronics Reliability 45(9-11): 1337-1342 (2005) |
| 1 | G. Ghidini | [1] |
| 2 | G. Giusto | [1] |
| 3 | A. Sebastiani | [1] |
| 4 | B. Stragliati | [1] |
| 5 | M. Vitali | [1] |