E. G. Chang

2004
2	EE	K. S. Kim, H. I. Kim, C. H. Yu, E. G. Chang: Fatigue analysis of high-speed photodiode submodule by using FEM. Microelectronics Reliability 44(1): 167-171 (2004)
2003
1	EE	K. S. Kim, C. H. Yu, N. H. Kim, N. K. Kim, H. J. Chang, E. G. Chang: Isothermal aging characteristics of Sn-Pb micro solder bumps. Microelectronics Reliability 43(5): 757-763 (2003)

Coauthor Index

1	H. J. Chang	[1]
2	H. I. Kim	[2]
3	K. S. Kim	[1] [2]
4	N. H. Kim	[1]
5	N. K. Kim	[1]
6	C. H. Yu	[1] [2]