| |
| 2003 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | F. Velardi, F. Iannuzzo, G. Busatto, J. Wyss, A. Sanseverino, A. Candelori, G. Currò, A. Cascio, F. Frisina: Reliability of Medium Blocking Voltage Power VDMOSFET in Radiation Environment. Microelectronics Reliability 43(9-11): 1847-1851 (2003) |
| 1 | G. Busatto | [1] |
| 2 | A. Candelori | [1] |
| 3 | G. Currò | [1] |
| 4 | F. Frisina | [1] |
| 5 | F. Iannuzzo | [1] |
| 6 | A. Sanseverino | [1] |
| 7 | F. Velardi | [1] |
| 8 | J. Wyss | [1] |