E. Viganò

2002
1	EE	E. Viganò, A. Ghetti, G. Ghidini, A. S. Spinelli: Post-breakdown characterization in thin gate oxides. Microelectronics Reliability 42(9-11): 1491-1496 (2002)

Coauthor Index

1	A. Ghetti	[1]
2	G. Ghidini	[1]
3	A. S. Spinelli	[1]