| |
| 2005 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | F. Palumbo, G. Condorelli, S. Lombardo, K. L. Pey, C. H. Tung, L. J. Tang: Structure of the oxide damage under progressive breakdown. Microelectronics Reliability 45(5-6): 845-848 (2005) |
| 1 | S. Lombardo | [1] |
| 2 | F. Palumbo | [1] |
| 3 | K. L. Pey | [1] |
| 4 | L. J. Tang | [1] |
| 5 | C. H. Tung | [1] |