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11. DAGM-Symposium 1989: Hamburg, Germany

Hans Burkhardt, Karl Heinz Höhne, Bernd Neumann (Eds.): Mustererkennung 1989, 11. DAGM-Symposium, Hamburg, 2.-4. Oktober 1989, Proceedings. Informatik-Fachberichte 219 Springer 1989, ISBN 3-540-51748-0 BibTeX
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