Paul J. van Wijnen

1998
1	EE	Ivo Schanstra, Dharmajaya Lukita, A. J. van de Goor, Kees Veelenturf, Paul J. van Wijnen: Semiconductor manufacturing process monitoring using built-in self-test for embedded memories. ITC 1998: 872-

Coauthor Index

1	A. J. van de Goor	[1]
2	Dharmajaya Lukita	[1]
3	Ivo Schanstra	[1]
4	Kees Veelenturf	[1]