| |
| 2001 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | M. N. Levin, V. R. Gitlin, S. G. Kadmensky, S. S. Ostrouhov, V. S. Pershenkov: X-ray and UV controlled adjustment of MOS VLSI circuits threshold voltages. Microelectronics Reliability 41(2): 185-191 (2001) |
| 1 | V. R. Gitlin | [1] |
| 2 | S. G. Kadmensky | [1] |
| 3 | M. N. Levin | [1] |
| 4 | V. S. Pershenkov | [1] |