| |
| 2003 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | J. C. H. Phang, D. S. H. Chan, V. K. S. Ong, S. Kolachina, J. M. Chin, M. Palaniappan, G. Gilfeather, Y. X. Seah: Single contact beam induced current phenomenon for microelectronic failure analysis. Microelectronics Reliability 43(9-11): 1595-1602 (2003) |
| 1 | D. S. H. Chan | [1] |
| 2 | J. M. Chin | [1] |
| 3 | G. Gilfeather | [1] |
| 4 | V. K. S. Ong | [1] |
| 5 | M. Palaniappan | [1] |
| 6 | J. C. H. Phang | [1] |
| 7 | Y. X. Seah | [1] |