| |
| 2005 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | M. C. Lemme, J. K. Efavi, H. D. B. Gottlob, T. Mollenhauer, T. Wahlbrink, H. Kurz: Comparison of metal gate electrodes on MOCVD HfO2. Microelectronics Reliability 45(5-6): 953-956 (2005) |
| 1 | J. K. Efavi | [1] |
| 2 | H. D. B. Gottlob | [1] |
| 3 | H. Kurz | [1] |
| 4 | M. C. Lemme | [1] |
| 5 | T. Mollenhauer | [1] |