S. M. Soare

2003
1	EE	A. B. Horsfall, J. M. M. dos Santos, S. M. Soare, N. G. Wright, A. G. O'Neill, S. J. Bull, A. J. Walton, A. M. Gundlach, J. T. M. Stevenson: Direct measurement of residual stress in integrated circuit interconnect features. Microelectronics Reliability 43(9-11): 1797-1801 (2003)

Coauthor Index

1	S. J. Bull	[1]
2	A. M. Gundlach	[1]
3	A. B. Horsfall	[1]
4	A. G. O'Neill	[1]
5	J. M. M. dos Santos	[1]
6	J. T. M. Stevenson	[1]
7	A. J. Walton	[1]
8	N. G. Wright	[1]