2003 | ||
---|---|---|
2 | EE | A. B. Horsfall, J. M. M. dos Santos, S. M. Soare, N. G. Wright, A. G. O'Neill, S. J. Bull, A. J. Walton, A. M. Gundlach, J. T. M. Stevenson: Direct measurement of residual stress in integrated circuit interconnect features. Microelectronics Reliability 43(9-11): 1797-1801 (2003) |
2001 | ||
1 | EE | Kostis Michelakis, S. Despotopoulos, S. G. Badcock, Christos Papavassiliou, A. G. O'Neill, Chris Toumazou: SiGe HMOSFET differential pair. ISCAS (1) 2001: 679-682 |
1 | S. G. Badcock | [1] |
2 | S. J. Bull | [2] |
3 | S. Despotopoulos | [1] |
4 | A. M. Gundlach | [2] |
5 | A. B. Horsfall | [2] |
6 | Kostis Michelakis | [1] |
7 | Christos Papavassiliou | [1] |
8 | J. M. M. dos Santos | [2] |
9 | S. M. Soare | [2] |
10 | J. T. M. Stevenson | [2] |
11 | Christofer Toumazou (Chris Toumazou) | [1] |
12 | A. J. Walton | [2] |
13 | N. G. Wright | [2] |