S. Di Pascoli

2002
2	EE	M. R. Carriero, S. Di Pascoli, Giuseppe Iannaccone: Simulation of failure time distributions of metal lines under electromigration. Microelectronics Reliability 42(9-11): 1469-1472 (2002)
1995
1		Marcello Chiaberge, G. Di Bene, S. Di Pascoli, R. Lambert, Beatrice Lazzerini, Adriana Maggiore, Leonardo Maria Reyneri: EL-SIM: a Development Environment for Neuro-Fuzzy Intelligent Controllers. IWANN 1995: 666-672

Coauthor Index

1	G. Di Bene	[1]
2	M. R. Carriero	[2]
3	Marcello Chiaberge	[1]
4	Giuseppe Iannaccone	[2]
5	R. Lambert	[1]
6	Beatrice Lazzerini	[1]
7	Adriana Maggiore	[1]
8	Leonardo Maria Reyneri	[1]

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