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2002 | ||
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2 | EE | M. R. Carriero, S. Di Pascoli, Giuseppe Iannaccone: Simulation of failure time distributions of metal lines under electromigration. Microelectronics Reliability 42(9-11): 1469-1472 (2002) |
1995 | ||
1 | Marcello Chiaberge, G. Di Bene, S. Di Pascoli, R. Lambert, Beatrice Lazzerini, Adriana Maggiore, Leonardo Maria Reyneri: EL-SIM: a Development Environment for Neuro-Fuzzy Intelligent Controllers. IWANN 1995: 666-672 |
1 | G. Di Bene | [1] |
2 | M. R. Carriero | [2] |
3 | Marcello Chiaberge | [1] |
4 | Giuseppe Iannaccone | [2] |
5 | R. Lambert | [1] |
6 | Beatrice Lazzerini | [1] |
7 | Adriana Maggiore | [1] |
8 | Leonardo Maria Reyneri | [1] |