G. Neumann

2005
2	EE	G. Neumann, J. Touzel, R. Duschl: Localization and physical analysis of dielectric weaknesses for state-of-the-art deep trench based DRAM products. Microelectronics Reliability 45(9-11): 1520-1525 (2005)
1981
1		G. Neumann, Ralf Ackermann, Winfried Grünewald: Messungen zum Kommunikationsaufwand für Prozesse in einem lokalen Rechnernetz: Erfahrungen aus einer Implementation. Implementierungssprachen für nichtsequentielle Programmsysteme 1981: 186-208

Coauthor Index

1	Ralf Ackermann	[1]
2	R. Duschl	[2]
3	Winfried Grünewald	[1]
4	J. Touzel	[2]

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