| |
| 2004 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | C. C. Su, C. S. Chang, H. W. Huang, D. S. Tu, C. L. Lee, Jerry C. H. Lin: Dynamic Analog Testing via ATE Digital Test Channels. Asian Test Symposium 2004: 308-312 |
| 1 | C. S. Chang | [1] |
| 2 | H. W. Huang | [1] |
| 3 | C. L. Lee | [1] |
| 4 | C. C. Su | [1] |
| 5 | D. S. Tu | [1] |