| |
| 2001 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | L. A. Knauss, A. B. Cawthorne, N. Lettsome, S. Kelly, S. Chatraphorn, E. F. Fleet, F. C. Wellstood, W. E. Vanderlinde: Scanning SQUID microscopy for current imaging. Microelectronics Reliability 41(8): 1211-1229 (2001) |
| 1 | A. B. Cawthorne | [1] |
| 2 | S. Chatraphorn | [1] |
| 3 | S. Kelly | [1] |
| 4 | L. A. Knauss | [1] |
| 5 | N. Lettsome | [1] |
| 6 | W. E. Vanderlinde | [1] |
| 7 | F. C. Wellstood | [1] |