L. R. Van den Doel

2000
1	EE	L. R. Van den Doel, Lucas J. van Vliet, K. T. Hjelt, M. J. Vellekoop, Ian T. Young, F. Gromball, Jan G. Korvink: Nanometer-Scale Height Measurements in Micromachined Picoliter Vials Based on Interference Fringe Analysis. ICPR 2000: 3057-3062

Coauthor Index

1	F. Gromball	[1]
2	K. T. Hjelt	[1]
3	Jan G. Korvink	[1]
4	M. J. Vellekoop	[1]
5	Lucas J. van Vliet	[1]
6	Ian T. Young	[1]