Peter Reiser
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2006
1
Peter Reiser,
Heyno Garbe
,
Dietmar Giselbrecht
: Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen.
EMV 2006
: 245-252
Coauthor
Index
1
Heyno Garbe
[
1
]
2
Dietmar Giselbrecht
[
1
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Sun May 17 03:24:02 2009 by
Michael Ley
(
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