| |
| 2006 | ||
|---|---|---|
| 4 | Peter Reiser, Heyno Garbe, Dietmar Giselbrecht: Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen. EMV 2006: 245-252 | |
| 3 | Adam Tankielun, Sven Fisahn, Heyno Garbe, Werner John: Erhöhung der Ortsauflösung von Nahfeldmessungen durch eine inverse Faltungsoperation. EMV 2006: 341-348 | |
| 2 | Sven Battermann, Heyno Garbe, Lutz Dunker: Messtechnische Beschreibung des Niederspannungsnetzes im Störkopplungsmodell. EMV 2006: 497-504 | |
| 2001 | ||
| 1 | EE | P. Kralicek, Werner John, Heyno Garbe: Modeling electromagnetic emission of integrated circuits for system analysis. DATE 2001: 336-340 |
| 1 | Sven Battermann | [2] |
| 2 | Lutz Dunker | [2] |
| 3 | Sven Fisahn | [3] |
| 4 | Dietmar Giselbrecht | [4] |
| 5 | Werner John | [1] [3] |
| 6 | P. Kralicek | [1] |
| 7 | Peter Reiser | [4] |
| 8 | Adam Tankielun | [3] |