| |
| 2006 | ||
|---|---|---|
| 1 | EE | J. T. Jang, Y. C. Kim, W. H. Bong, E. K. Kwon, B. J. Kwon, J. S. Jeon, H. G. Kim, I. H. Son: A new high-voltage tolerant I/O for improving ESD robustness. Microelectronics Reliability 46(9-11): 1634-1637 (2006) |
| 1 | W. H. Bong | [1] |
| 2 | J. T. Jang | [1] |
| 3 | J. S. Jeon | [1] |
| 4 | H. G. Kim | [1] |
| 5 | B. J. Kwon | [1] |
| 6 | E. K. Kwon | [1] |
| 7 | I. H. Son | [1] |