| |
| 1995 | ||
|---|---|---|
| 1 | Torsten Scheuermann, Georg Pfundt, Peter Eyerer, Bernd Jähne: Oberflächenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statisitscher Rauschmuster. DAGM-Symposium 1995: 319-326 | |
| 1 | Peter Eyerer | [1] |
| 2 | Bernd Jähne | [1] |
| 3 | Torsten Scheuermann | [1] |